絕緣電阻測(cè)試儀 型號(hào)JN12-MS2675DN 庫號(hào)D398239

庫號(hào)：D398239 

測(cè)試電壓:DC:250V/500V/1000V ±5%, 任意設(shè)定
測(cè)量范圍:1～9999（MΩ） ±5%, 
報(bào)警阻值:1～9999（MΩ） 任意設(shè)定
定 時(shí):1～99（s） ±5%， 手控∞
主要功能:測(cè)試電壓、絕緣電阻、時(shí)間同時(shí)測(cè)量，單片微處理器
控制測(cè)試，測(cè)試數(shù)據(jù)可保持，且有合格/不合格判定，聲光報(bào)警。
  
測(cè)試電壓:DC:250V/500V/1000V ±5%, 任意設(shè)定
測(cè)量范圍:1～9999（MΩ） ±5%, 
報(bào)警阻值:1～9999（MΩ） 任意設(shè)定
定 時(shí):1～99（s） ±5%， 手控∞
主要功能:測(cè)試電壓、絕緣電阻、時(shí)間同時(shí)測(cè)量，單片微處理器
控制測(cè)試，測(cè)試數(shù)據(jù)可保持，且有合格/不合格判定，聲光報(bào)警。
  
測(cè)試電壓:DC:250V/500V/1000V ±5%, 任意設(shè)定
測(cè)量范圍:1～9999（MΩ） ±5%, 
報(bào)警阻值:1～9999（MΩ） 任意設(shè)定
定 時(shí):1～99（s） ±5%， 手控∞
主要功能:測(cè)試電壓、絕緣電阻、時(shí)間同時(shí)測(cè)量，單片微處理器
控制測(cè)試，測(cè)試數(shù)據(jù)可保持，且有合格/不合格判定，聲光報(bào)警。
  
測(cè)試電壓:DC:250V/500V/1000V ±5%, 任意設(shè)定
測(cè)量范圍:1～9999（MΩ） ±5%, 
報(bào)警阻值:1～9999（MΩ） 任意設(shè)定
定 時(shí):1～99（s） ±5%， 手控∞
主要功能:測(cè)試電壓、絕緣電阻、時(shí)間同時(shí)測(cè)量，單片微處理器
控制測(cè)試，測(cè)試數(shù)據(jù)可保持，且有合格/不合格判定，聲光報(bào)警。

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